日本金属学会誌

J. Japan Inst. Metals, Vol. 4, No. 12 (1940),
pp. 398-404

Über das Zustandsschaubild der Kupferreichen Kupfer-Silizium-Legierungen (II Mitteilung)

Takesaburo Isawa1

1旅順工科大學冶金學教室

Abstract:

In der I Mitteilung wandte der Verfasser, um die Sättigungsgrenze des α-Mischkristalls gründlich zu untersuchen, die Präzisionsrontgenanalyse an, und fand dabei eine bestimmte Sättigungsgrenze, die bei der peritektischen Temperatur 850°; 4.75% Si, bei 820°_??_800°, 4.99% Si, bei 590°, 4.2% Si enthält, und je nach der Absteigung der Temperatur geringer wird: so dass sie bei normaler Temperatur nur 3% Si enthält.
Ferner fand der Verfasser, dass eine etwa 6% Si enthaltende κ-phase die hexagonale dichteste Kugelpackung, eine 8% Si enthaltende β-Phase die kubischraumzentrierten Gitter hat und bei 780° die Eutektoidumwandlung zeigt. Die Natur der β-Phase ist denjenigen der Cu-Sn, Cu-Al, Cu-Zn Legierungen verwandt.
An den Ergebnissen der Untersuchungen, die der VerfaSser nach der Methode des elektrischen Widerstands; der Röntgenanalyse so wie der mikroskopischen Messung geführt hatte, bemerkte er dann eine bei 590° eintretende Eutektoidumwandlung κ_??_α+δ, und stellte auch die Gitter-Konstante der γ-und δ-Phasen fest.
Innerhalb dieser Mischkristalle zeigen α-, β-und γ-Phasen die den allgemeinen Cu-Legierurigen gemeinschaftliche Natur und richten sich nach der Hume-Rotheryschen Theorie, währendund κ-Phasen eine auf der Gleichzusam-mensetzungsgrenze andrer Cu-Legierungen nicht existierende und diesen Cu-Si-Legierungen eigentümliche Natur zeigen.
Nach den Ergebnissen der oben erwähnten Untersuchungen bestimmt der Verfasser des Zustandsschaubild des Cu-Si unterhalb 14% Si.


(Received 1940/08/28)

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