日本金属学会誌



日本金属学会誌 - 第68巻 第5号 2004年5月


特集「先端試料作製技法と分析電子顕微鏡法による材料評価」
 
263: 特集「先端試料作製技法と分析電子顕微鏡法による材料評価」によせて
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  進藤大輔 谷山 明
 
264-268: 電子エネルギー損失分光法によるセリア−ジルコニア固溶体の規則相の解析
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  荒井重勇 武藤俊介 村井盾哉 佐々木巌
右京良雄 黒田光太郎 坂 公恭
 
269-274: マルテンサイト系ステンレス鋼の溶接熱影響部における粒界Cr欠乏層のTEM/EDS分析
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  谷山 明 天谷 尚 小川和博 植田昌克 平田弘征
 
275-281: ナノ切削力測定装置の開発と応力解析
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  朝倉健太郎 広畑泰久 鈴木洋敏 星埜由典
 
282-287: 計装化ウルトラミクロトームを用いたはんだ接続部に生成する金属間化合物の切削力評価
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  依田智子 今村裕子 広畑泰久 朝倉健太郎
 
288-292: 計装化ウルトラミクロトームによる金属材料の機械的特性評価
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  谷山 明 朝倉健太郎 丹羽博嗣 広畑泰久
 
293-298: 集束イオンビームによる新しいTEM試料作製法の開発再加工が可能な方法
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  鈴木俊明 柴田昌照 奥西栄治 遠藤徳明 久芳聡子
 
299-304: 液晶ディスプレイの故障解析へのFIB/TEMの応用
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  辻 智 辻本勝浩 黒田光太郎 坂 公恭
 
305-310: 集束イオンビーム加工下での人工的なCu-Sn合金析出
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  杉山昌章 鈴木哲也 池松陽一
 
311-314: FIB/TEM法を用いた江戸後期漆器の着色顔料の微細構造解析
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  辻本勝浩 北田正弘
 
315-319: 電子線ホログラフィーとローレンツ顕微鏡法によるFePt(001)薄膜の磁区構造観察
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  日野友和 村上恭和 進藤大輔 岡本 聡 北上 修 島田 寛
 
320-325: 透過電子顕微鏡法によるSm-Fe-N系磁性粒子の微細組織と磁区構造解析
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  安原 聡 進藤大輔 飛世正博
 
論 文
 
326-332: 液−液界面法による面心立方晶C60粉末の作製とその形態
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  高橋 裕 浅井克弘
 
333-341: 超微細粒鋼のハイパー界面接合部における結晶粒成長挙動
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  鄭譜永 西本和俊 才田一幸
 
342-349: 77Kにおいて<001>方向に引張変形した純度99.999mass%A1単結晶における活動すべり系と<111>軸回転再結晶機構
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  宮崎剛行 田上 稔 浜 敏雄 小川 仁 岡田達也 猪子富久治
 
寄 書
 
350: 変態を経て成長するフェライトの粗粒と柱状晶
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・  黒木英憲
 

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