
| 寄 書 |
| 834-835: 薄膜酸化物の電気伝導度測定法に関する二,三の検討 |
| ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 後藤和弘 永田和宏 張 力偉 |
| 836-837: 半導体酸化物薄膜のホール定数の測定法の検討 |
| ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 張 力偉 後藤和弘 |
| 838-839: SiO2-C粉末混合物の還元速度におよぼす炭素粒径の影響 |
| ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 下尾聰夫 水滝房吾 |
| 840-841: Bi-Sr-Ca-Fe酸化物中の転位の電子顕微鏡解析 |
| ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 高橋 裕 森 実 石田洋一 板東義雄 |